Облучение электронных
приборов и материалов
Облучение тяжелыми ионами высокой энергии (Е > 1 МэВ/н) применяется для моделирования радиационного повреждения инженерных материалов, подвергающихся воздействию радиации во время эксплуатации. Технология хорошо зарекомендовала себя во всем мире для исследования материалов и устройств, используемых в ядерных реакторах и космическом пространстве.

Центр прикладной физики предлагает услуги по ионному облучению образцов материалов или устройств для изучения эффектов повреждения и проверки их работоспособности во время воздействия радиации. Мы накопили большой опыт в проведении подобных исследований, например, в области тестирования микросхем с помощью пучков ускоренных тяжелых ионов.

Клиенты могут воспользоваться разработанными установками и протоколами испытаний или заказать разработку новых установок и протоколов под свои нужды.
Приобретение услуги
По вопросам приобретения услуги или по другим вопросам, пожалуйста, свяжитесь с нашим авторизированным партнером
U 400
U 400M